系統(tǒng)概述

電容器溫度特性評估系統(tǒng)是將環(huán)境試驗箱與評估系統(tǒng)相結合，高效采集數據的自動化多通道系統(tǒng)。系統(tǒng)自動評估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。系統(tǒng)通過精確控制溫度環(huán)境，并測量電容器在不同溫度下的關鍵參數（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數值），從而評估其溫度特性。該系統(tǒng)通常具有高精度、高穩(wěn)定性和高可靠性的特點，能夠適用于各種類型的電容器，包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等。

應用領域

通信與信息技術：在通信設備和信息技術產品中，電容器也扮演著重要角色。多通道電容器溫度特性評估系統(tǒng)可以提供高效的測試方案，確保產品在各種溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。

電子材料：印刷電路板、通量、絕緣材料（樹脂、薄膜等）、介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）。

產品優(yōu)勢

1.最多64個通道的自動測量

可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量 (C)、損耗因子(D) 和阻抗 (Z) 的多通道。可以選擇8個通道的倍數，最多64個通道。

2.圖形功能允許實時查看測量結果

收集的數據，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數進行實時審查。

3.可從不同測試模式選擇

溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合。

  》 溫度特性評估測試

   在此測試模式下,自動記錄特性數據,并與溫度變化同步,頻率步數201步(范圍可定制)。

  》 持續(xù)運行測試測試

   模式測量以下參數的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數據。

  》 頻率特性評價試驗

   試驗模式在特定溫度環(huán)境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數據。

4.多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本（可選）

除了 SMD 組件的專用夾具外，還提供了根據離散設備形狀定制的夾具。

技術指標

1.測量項目：電容量 (C)、損耗系數 (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)

2.測試方法：溫度特性評價試驗（相對于溫度的變化）

恒定運行檢測（相對于檢測時間的變化）

頻率特性評價試驗 （相對于頻率的變化）

3.通道配置：8通道（標準）；最大值64通道可擴展8通道增量

4.測量方法：交流四端對測量

5.測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz

電容量 (C)：50 pF ~ 5 mF

損失因子 (D)：0.00001 ~ 9.99999

阻抗 (Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

6.測量儀器：LCR 表 （可按需選擇型號）

7.直流偏壓：0 ~ ±40V

8.溫度測量間隔：1 ℃

9.掃描周期：64通道可在1min之內完成

10.頻率步長：201步（范圍可定制）

11.補償：短時補償，開放補償

12.環(huán)境試驗系統(tǒng)控制：使溫度數據采集與測量和的溫度控制同步，具有RS-485功能的環(huán)境測試系統(tǒng)

13.測量電纜：由聚四氟乙烯制成的同軸電纜 （特性阻抗 (Z)，50Ω，95 pF/m）