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多通道電流矩陣模塊鐵電分析儀高壓功率放大器塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺(tái)測試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電試驗(yàn)

更新時(shí)間：2025-07-24

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固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電試驗(yàn)是保障測度的器質(zhì)，適用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓下耐電弧行的測試，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。華測耐電弧試驗(yàn)儀器抗擾能力強(qiáng)穩(wěn)定性好
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PEA空間電荷測量儀

更新時(shí)間：2025-08-13

型號(hào)：

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PEA空間電荷測量儀華測儀器選擇新型耐高溫共聚物壓電傳感器、重新設(shè)計(jì)電極系統(tǒng)，開發(fā)了適用于高溫下(≤110℃)的PEA 法空間電荷測量系統(tǒng)，分析了溫度對壓電傳感器性能、聲信號(hào)的傳播特性和穿過介質(zhì)特性的影響，得出了對放大器輸出的電壓信號(hào)和空間電荷密度值的影響因素，進(jìn)而校正了溫度對 PEA 測量系統(tǒng)的影響。
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HCCT-40H華測電容器溫度特性評估系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-08-01

型號(hào)：HCCT-40H

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華測電容器溫度特性評估系統(tǒng)（電介質(zhì)特性評估系統(tǒng)），將環(huán)境試驗(yàn)箱與測量和評估系統(tǒng)相結(jié)合，高效采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。
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PEA空間電荷測量系統(tǒng)/脈沖電聲法

更新時(shí)間：2025-08-13

型號(hào)：

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PEA空間電荷測量系統(tǒng)/脈沖電聲法，電聲脈沖法是一種無損的空間電荷測量技術(shù)。它用于描述聚合物絕緣材料內(nèi)部的空間電荷分布、積累及其整體行為?？臻g電荷觀測正在成為評估直流絕緣應(yīng)用(尤其是高壓電纜)中的聚合物材料測試時(shí)，使用廣泛的技術(shù)。
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HCDJC華測薄膜復(fù)合制品變溫極化耐擊穿試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2025-08-11

型號(hào)：HCDJC

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華測薄膜復(fù)合制品變溫極化耐擊穿試驗(yàn)機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制，通過人機(jī)對話方式，完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)。主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測試；采用計(jì)算機(jī)控制，可對試驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。配合變溫油浴槽實(shí)現(xiàn)變溫極化耐擊穿試驗(yàn)。
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HCDJC-150KV電壓擊穿儀，快速測定擊穿強(qiáng)度

更新時(shí)間：2025-08-11

型號(hào)：HCDJC-150KV

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電壓擊穿儀，快速測定擊穿強(qiáng)度主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測試。
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Huace HV-10華測多通道高壓極化裝置

更新時(shí)間：2024-12-12

型號(hào)：Huace HV-10

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Huace HV-10華測多通道高壓極化裝置借鑒國際xian進(jìn)的測試方法的基礎(chǔ)上，采用華測儀器自主研發(fā)的超低紋波、線性高壓直流電源、更科學(xué)穩(wěn)定的加熱電極，并配合計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)的多功能極化的裝置。
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HCMP華測多通道介電/電阻測試儀

更新時(shí)間：2024-12-12

型號(hào)：HCMP

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華測多通道介電/電阻測試儀，主要用于：多通道電阻、介電測試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用；光耦繼電器，高速又耐用；切換時(shí)間 1 ms；高速I/O 輸出控制。
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